数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试

时间：2023-01-17 17:32:57浏览次数：42

标签：逻辑 01 门电路电平功能测试实验测试 TTL

一、实验目的和任务

测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理介绍

实验中用到的基本门电路的符号为：

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试_数字电路

在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。

三、实验数据、计算及分析

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试_电子技术_02

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试_数字电路_03

标签：逻辑,01,门电路,电平,功能测试,实验,测试,TTL
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