5.3.12 I/O端口特性
通用输入/输出特性
除非特别说明，下表列出的参数是按照表9的条件测量得到。所有的I/O端口都是兼容CMOS和TTL。
1. FT = 5V容忍。
2. 施密特触发器开关电平的迟滞电压。由综合评估得出，不在生产中测试。
3. 至少100mV。
4. 如果在相邻引脚有反向电流倒灌，则漏电流可能高于最大值。
5. 上拉和下拉电阻是设计为一个真正的电阻串联一个可开关的PMOS/NMOS实现。这个PMON/NMOS开关的电阻很小(约占10%)。
所有I/O端口都是CMOS和TTL兼容(不需软件配置)，它们的特性考虑了多数严格的CMOS工艺或TTL参数：
● 对于VIH：
− 如果VDD是介于[2.00V~3.08V]；使用CMOS特性但包含TTL。
− 如果VDD是介于[3.08V~3.60V]；使用TTL特性但包含CMOS。
● 对于VIL：
− 如果VDD是介于[2.00V~2.28V]；使用TTL特性但包含CMOS。
− 如果VDD是介于[2.28V~3.60V]；使用CMOS特性但包含TTL。
输出驱动电流
GPIO(通用输入/输出端口)可以吸收或输出多达+/-8mA电流，并且吸收+20mA电流(不严格的VOL)。在用户应用中，I/O脚的数目必须保证驱动电流不能超过5.2节给出的绝对最大额定值：
● 所有I/O端口从VDD上获取的电流总和，加上MCU在VDD上获取的最大运行电流，不能超过绝对最大额定值IVDD(参见表7)。
● 所有I/O端口吸收并从VSS上流出的电流总和，加上MCU在VSS上流出的最大运行电流，不能超过绝对最大额定值IVSS(参见表7)。
输出电压
除非特别说明，表35列出的参数是使用环境温度和VDD供电电压符合表9的条件测量得到。所有的I/O端口都是兼容CMOS和TTL的。
1. 芯片吸收的电流IIO必须始终遵循表7中给出的绝对最大额定值，同时IIO的总和(所有I/O脚和控制脚)不能超过IVSS。
2. 芯片输出的电流IIO必须始终遵循表7中给出的绝对最大额定值，同时IIO的总和(所有I/O脚和控制脚)不能超过IVDD。
3. 由综合评估得出，不在生产中测试。
输入输出交流特性
输入输出交流特性的定义和数值分别在图23和表36给出。
除非特别说明，表36列出的参数是使用环境温度和供电电压符合表9的条件测量得到。
1. I/O端口的速度可以通过MODEx[1:0]配置。参见STM32F10xxx参考手册中有关GPIO端口配置寄存器的说明。
2. 最大频率在图23中定义。
3. 由设计保证，不在生产中测试。
5.3.13 NRST引脚特性
NRST引脚输入驱动使用CMOS工艺，它连接了一个不能断开的上拉电阻，RPU(参见表34)。
除非特别说明，表37列出的参数是使用环境温度和VDD供电电压符合表9的条件测量得到。
1. 由设计保证，不在生产中测试。
2. 上拉电阻是设计为一个真正的电阻串联一个可开关的PMOS实现。这个PMON/NMOS开关的电阻很小(约占10%)。
1. 复位网络是为了防止寄生复位。
2. 用户必须保证NRST引脚的电位能够低于表37中列出的最大VIL(NRST)以下，否则MCU不能得到复位。
5.3.14 TIM定时器特性
表38列出的参数由设计保证。
有关输入输出复用功能引脚(输出比较、输入捕获、外部时钟、PWM输出)的特性详情，参见第5.3.12节。
5.3.15 通信接口
I2C接口特性
除非特别说明，表39列出的参数是使用环境温度，fPCLK1频率和VDD供电电压符合表9的条件测量得到。
STM32F103xx增强型产品的I2C接口符合标准I2C通信协议，但有如下限制：SDA和SCL不是”真”开漏的引脚，当配置为开漏输出时，在引出脚和VDD之间的PMOS管被关闭，但仍然存在。I2C接口特性列于表39，有关输入输出复用功能引脚(SDA和SCL)的特性详情，参见第5.3.12节。
1. 由设计保证，不在生产中测试。
2. 为达到标准模式I2C的最大频率，fPCLK1必须大于2MHz。为达到快速模式I2C的最大频率，fPCLK1必须大于4MHz。
3. 如果不要求拉长SCL信号的低电平时间，则只需满足开始条件的最大保持时间。
4. 为了跨越SCL下降沿未定义的区域，在MCU内部必须保证SDA信号上至少300ns的保持时间。
1. RP = 外部上拉电阻，fSCL = I2C速度。
2. 对于200kHz左右的速度，速度的误差是±5%。对于其它速度范围，速度的误差是±2%。这些变化取决于设计中外部元器件的精度。
SPI接口特性
除非特别说明，表41列出的参数是使用环境温度，fPCLKx频率和VDD供电电压符合表9的条件测量得到。有关输入输出复用功能引脚(NSS、SCK、MOSI、MISO)的特性详情，参见第5.3.12节。 
1. 重映射的SPI1特性需要进一步确定。
2. 由综合评估得出，不在生产中测试。
3. 最小值表示驱动输出的最小时间，最大值表示正确获得数据的最大时间。
4. 最小值表示关闭输出的最小时间，最大值表示把数据线置于高阻态的最大时间。
1．测量点设置于CMOS电平：0.3VDD和0.7VDD。
USB特性
USB(全速)接口已通过USB-IF认证。 
1. 所有的电压测量都是以设备端地线为准。
2. 为了与USB 2.0全速电气规范兼容，USBDP(D+)引脚必须通过一个1.5kΩ电阻接至3.0~3.6V电压。
3. STM32F103xx的正确USB功能可以在2.7V得到保证，而不是在2.7~3.0V电压范围下降级的电气特性。
4. 由综合评估保证，不在生产中测试。
5. RL是连接到USB驱动器上的负载。
1. 由设计保证，不在生产中测试。
2. 测量数据信号从10%至90%。更多详细信息，参见USB规范第7章(2.0版)。
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