目录

1.应用场景

• 主要是I2C\UART\SPI协议

2.Cortex-M3 MCU成本与工艺选型

• 按照晶圆进行收费，28nm，12寸晶圆，400万美金
• 晶圆是圆形的，die是方形的，会存在浪费
• productivity - 大约是理论数量（晶圆总面积/裸片面积）的50%-60%
• yield - 生产工艺问题导致在晶圆上切出的die存在问题，存在良率问题
• package - 封装，将die的IO和外部的IO连在一起
• test - 芯片测试费用，ATE测试
• IP - ARM Core，主要是license费用
• volume - 数量
• 随着生产数量增加，成本越低。
  
• 工艺升级，Mask费用会增加，yield也会上升，最终的单片成本会降低
• MCU在28nm或者是40nm，主要是因为MCU会高度集成一些模拟的器件Flash,AD/DA。模拟的工艺往往落后于数字，模拟工艺还停留在40nm。
• 工艺比较先进的芯片，Flash往往作为分离期间，Soc通过Flash Controller对Flash进行控制

3.Cortex-M3 MCU成本与工艺选型

• Paper Floor Plan是按照比例进行放大的，便于后端人员进行布局布线
• 面积受限于Flash和RAM模拟部分的面积

4.Cortex-M3 MCU功耗预估

• track - 指的是CMOS的高度，track越高延时越小，有9-track和12-track。

5. Cortex-M3 MCU整体架构

• core选择的是Cortex M3
• 存储系统选择：Boot-ROM、Flash、SRAM，Boot-ROM和Flash是可选择的，可以通过Boot-ROM进行启动，也可以通过Flash进行启动
• DMA配合CPU进行数据搬移，数据可以从内存中的一部分搬移到另外一部分，还可以从外设到内存，或者是从内存到外设。
• Cortex M3是一个RICS的系统，内存读写通过load-store指令，不管什么读写都需要经过寄存器间接进行load或者store。load是将数据从SRAM导入到CPU，Store是将数据从CPU导入到SRAM。
• load-store指令只能存取32bit数据，如果在内存中存取很大的数据效率就会比较低，DMA是一个硬件加速系统，可以解放CPU。
• AHB 4*2，四个Master和两个Slave
• APB不支持流水，每次固定两拍
  
• CPU与外设通信：中断（外设发起中断，CPU收到之后执行中断使能程序）、CPU主动查询外设的状态（对CPU的负荷要求高）、设置状态寄存器，当外设完成任务的时候将寄存器置为1，CPU读取状态寄存器（类似于邮箱通信）

6.Memory Map

• program指的是Flash，因为默认是Flash进行启动，所以首地址一般是Flash地址
• Boot-ROM进行启动，会进行地址偏移
• Reserved表示保留地址空间
• 外设是按照4K的地址均匀分布的，4K地址均匀分布，APB经过地址译码之后都是规整的。

7.MCU电路设计，系统集成-为什么设计CRG

• CRG - Clock and Reset Generator
• 时钟从PLL（A）走出之后，到达B和C的时间是不同的，所以产生了skew，Tskew = 7ns-5ns = 2ns。B和C虽然是同一个时钟，但是B和C的时钟相位不同。
• setup时间的计算就是从同一个时钟起点出发，计算寄存器的数据端和时钟端的差
  
• 为了让时钟从A到B和C的时间尽可能相同，可以在时钟从A点出来之后插入buffer，两个时钟路径的buffer可以不同，做时钟树的平衡。
  
• PLL分频，其中有很多控制。压控振荡器是通过数字系统进行控制的。
• 时钟有外部时钟和PLL时钟，可以在时钟输入端加一个Mux，当PLL时钟倍频或者分频的系数没有配置好的时侯，使用外部时钟，当PLL倍频和分频完成之后切换到PLL的时钟。
• 在DFT测试的时候，会将寄存器串联起来，寄存器反馈给PLL压控振荡器的分频或者倍频数是一直在切换（toggle）的，PLL产生的时钟就会乱掉，无法完成DFT测试。
  
  

8.MCU电路设计，系统集成-IO MAP

• wafer上切的die的越小，成本越低，die的大小取决于数字逻辑和模拟IP，还取决于边长，边长就取决于IO接口。不同时使用的接口可以进行复用。

9.系统控制器