1、转换对象：STDF文件
2、适用人员：TE 或 解决方案人员 或 需要对测试项TestItem原始测试值进行分析的
2、Excel格式：如下示意图
4、局限性：Excel一个sheet中，列数最大不能超过16384列，行数最大不能超过1048576行，因此这种格式对于超过16384颗Die的文件就无法生成Excel文件了，但对于TE来说这种格式更适合分析
5、为什么这种Excel格式，即每列一颗Die，每行一个参数，更适合TE进行数据分析？而不是常见的每列一个测试项，每行一颗Die的格式？
【每列一个测试项，每行一颗Die】：这种格式在STDF单机分析软件中很常见，原因是这种方式可以基于测试项的数量来拆分为多个sheet，如果某颗芯片的测试项超过2w，基于Excel列数最大不超过16384，则可以拆分成2个sheet，对于单片wafer来说，芯片数量基本上不会超过104w，即不会受到Excel行数限制，那么这种格式就可以导出全量数据
但由于TE经常跑100-200颗的autorun或者1颗的loop来进行测试值对比，需要将全量测试项展示在一个sheet中便于查看，且假设按照【每列一个测试项，每行一颗Die】输出Excel，那么如果使用Excel【自动筛选】查找测试项是无法实现的，需要手动拷贝测试项转置后再使用【自动筛选】，相对来说多了手工拷贝处理的步骤，是比较繁琐的。因此采用上述图片的格式是比较适合实验室数据对比分析的
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