实验
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高度向稀疏采样造成的整行缺失使得在高度向上出现严重混叠现象， 对高度向稀疏采样的数据首先利用线性插值恢复补全，再将部分插值去掉，以模拟二维随机降采样。
实验结果说明上述方法并不好。
高度向50%稀疏直接成像：
高度向50%稀疏-不动迭代成像：
高度向50%稀疏-线性插值后成像：
高度向50%稀疏-线性插值后不动点迭代成像：
高度向50%稀疏-线性插值后再随机降采样后不动点迭代成像：
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思考是否可以采用更合适的插值方法拟合原始采样数据
目的是首先利用插值技术恢复缺失的采样数据，而后利用经典匹配滤波的方法重建图像。
插值技术研究：https://www.cnblogs.com/fangrx/p/18236570