芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

方法一： 按列来查找，生成每列都为1的数组，如果列的坏芯片是芯片总数的一半多，那这一列都是坏的。否则，输出该列

n = int(input())
arr = []
temp = [True] * n  # 创造这一列为True个数的数组
for i in range(n):
    arr.append(list(map(int, input().split()))) # 加载芯片
for j in range(n):  # 列
    cnt = 0
    for i in range(n):  # 行
        if arr[i][j] == 0:
            cnt += 1
        if cnt >= n / 2:  # 如果坏芯片大于总芯片的一半
            temp[j] = False # 这一列判为False
            break
for item in range(n):
    if temp[item]: # 输出好芯片的一列
        print(item + 1, end=' ')

方法二：不按每列来查找，我们直接将所有列读入数组，然后再根据数组好坏芯片的个数来判断是否能输出该列。

n = int(input())
arr = []
for i in range(n):
    arr.append(list(map(int, input().split())))

for j in range(n):
    good = 0
    bad = 0
    for i in range(n):
        if arr[i][j] == 0:
            bad += 1
        elif arr[i][j] == 1:
            good += 1
    if good > bad: # 如果好芯片比较多，这一列没有问题
        print(j + 1, end=' ')