基本信息

• MCU：STM32F105R8T6
• 库：HAL
• 平台：MDK
• 精度：12位

问题一

• 现象：
  在测量的时候，发现采样值在 1023 ~ 1042 和 1279 ~ 1290 两个区间之间无法测量

• 原因：
  一开始还以为是我计算方式不对，折腾了很久才发现是采样导致的，发现这个现象后，有两个猜测
  可能一：怀疑是放大电路的问题，出现了这样的死区，导致 MCU 无法测量

  测试方法：用万用表测量放大后的信号是有变化的，并没有这样的死区存在，说明也不是放大电路的问题

  可能二：怀疑是 MCU 的 ADC 通道损坏导致无法采集

  测试方法：使用了多个 MCU 测量也是同样的现象，基本可以排除 MCU 的 ADC 通道损坏的可能，为了排除程序功能之间的影响，使用了单独的 ADC 采样 DEMO 程序测量时，居然没有这样的现象，到这里基本可以确定了是程序的问题，经过对比程序，最后发现是 ADC 时钟没有配置，绝望了。

• 解决办法：
  只需要配置 ADC 采集通道的时钟即可，程序如下所示：
  

问题二

• 现象：
  通过采样值计算出的电压与时间的电压有 40MV 的差距

• 原因：
  未知

• 解决办法：
  增加 ADC 通道校准，程序如下

  /* 校准ADC */
  HAL_ADCEx_Calibration_Start();