1.常用的测试压缩技术

1.1 测试压缩的驱动力

• 工艺复杂度导致错误类型的增加
• 芯片复杂度导致扫描单元数的增加
• 测试向量的增加
• 测试管脚的有限性
• 测试机台内存容量的有限性
• 测试时间的增加

1.2测试压缩的目标

1. 测试开销

• • 减轻测试机台需要存储的测试向量的大小
  • 减少测试时间
  • 减少测试需要的管脚数

1. 测试质量

• • 支持所有测试向量的压缩
  • 保证测试覆盖率
  • 保证测试的可诊断性

1.3常用的测试压缩技术

• 测试压缩技术分为：
  • 测试压缩：
    • XOR压缩
    • OPMISR压缩
  • 测试解压缩：
    • 广播解压
    • 可配置选择器解压
    • Ring Generator片上解压
• 测试压缩技术
  • XOR扫描链压缩：在扫描链的尾部插入N级XOR树状结构，将扫描链压缩为1/2的N次方。空间压缩。
    • 压缩率较高
    • 逻辑增加较少
    • 扫描链上的X态会影响测试覆盖率
    • 不同扫描链的同一bit上同时出现fault，也会影响测试覆盖率
    • 为什么用异或门，而不用与门或门？因为异或门输出与两个输入都有关系，受两者的影响；同时，加入与门扫描链上出现一个状态“0”，那与该条扫描链相邻的都会被屏蔽掉

• •  改进型XOR压缩树
    
    • 较好的可观测性
    • 扫描端口数较多
    • 扫描链上的X态会影响测试覆盖率
    • 优势在于，加入扫描链1上有未知态，则扫描链2上的状态可以通过扫描输出3观察，但同时存在如果扫描链2上有未知态，则未知态就会影响更多的扫描链了

• •  OPMISR：片上多输入签名寄存器

                        上图为典型MISR内部电路结构，下图为扫描链结构

                        Si/So为双向扫描输入输出端口，可移入数据，也可移出数据。

                        Mask可过滤不定态。

                        MISR为压缩模块，mrun为控制压缩/移位信号，mrst为压缩复位信号。

                        工作流程：通过Si/So端口将数据移入扫描链，然后存到MISR线性移位寄存器中保存，同时可以将新一轮的测试向量移入扫描链，当所有测试向量都移入MISR完成压缩默认完成一次签名，最后通过sdir信号控制Si/So端口方向将压缩向量输出端机台。但OPMISR不是无损压缩，不能通过签名值反推出扫描链上所有可能错误。    

• •  未知态掩膜（X masking）
    
    • 未知态引入：
      • 未串入扫描链的寄存器
      • False path
      • 未处在测试状态下的Memory
    • 未知态消除
      • 更改逻辑，通过增加阻塞逻辑阻止传播
      • 在压缩逻辑前面增加Masking逻辑

•  测试解压缩技术
  • 广播方式：优点：结构简单，不增加额外逻辑；缺点：扫描输入FanOut过大造成Pr绕线问题，同时移入相同向量一些逻辑是测试不到的

• • 可编程广播方式：动态调整扫描输入（Synopsys解压工具）

• • Ring Generator（环形测试向量生成器）：Phase shifter减少线性相关性（Mentor公司）

2.Tessent压缩模块EDT的简介

 2.1 Tessent EDT逻辑

      EDT：Embedded Deterministic Test

•  解压逻辑：解压测试向量，并将外部极少的测试输入端转换成内部较多的扫描链输入端；
• 旁路逻辑：保证模型模式下，测试人员可以通过旁路逻辑Bypass掉EDT压缩逻辑的影响，用全扫描的方式进行诊断；
• 掩膜逻辑：减少扫描链上的未知态对正常逻辑的产生结果的影响；
• 压缩逻辑：EDT压缩逻辑采用XOR压缩技术；
  • EDT时钟：测试时钟，用来驱动EDT内部解压逻辑和掩膜逻辑内部的寄存器，和普通移位时钟不同，但可通过他特定逻辑产生移位时钟；
  • EDT扫描输入：扫描数据输入；；
  • EDT Update：复位EDT内部逻辑；
  • EDT旁路逻辑信号：Bypass掉EDT的压缩逻辑；
  • EDT扫描输出：扫描结果输出；

  2.1.1 解压逻辑

       少量测试管脚通过解压逻辑，将一系列测试向量灌输到内部环形向量发生器内以产生更多的向量。同时利用异或门组成的Phase Shifter来减少环形向量发生器产生的线性相关的向量；将通过Phase Shifter解压的向量输送到内部众多的扫描链上。最终实现完整的解压过程。

       通过解压模块产生的向量是针对性的测试，测试时会向芯片内全部单元扫入向量，但是测试fault的单元只会是一部分，每次扫描只会是系统全部单元的5%-10%，而这部分的扫描寄存器需要确定的测试值用于测试，其他不测fault的单元测试向量不感知。

       如上图所示，图中只有5个寄存器的值需要特定的测试向量测试，其他的单元不在意测试向量值。

 旁路逻辑

        旁路逻辑由一组选择器组成，下面是简单版本的EDT示例。每个选择器是加载到每个扫描链内部头上，选择器一端是EDT的解压逻辑，另外一端是扫描输入端或扫描输出端，压缩逻辑之后还有一个选择器，用以选择扫描输出的数据。

        问题：如果扫描链是在不同时钟域上，这种串行的数据通路应该如何处理？

 压缩逻辑+掩膜逻辑

       EDT掩膜两种模式：XOR解码器、One-Hot解码器。如果测试时有过多的未知态，就使用One-Hot模式，只让关心的那条扫描链输出到扫描端口，或者只想诊断某条扫描链上的fault。平时测试时未知态不会太多，一般使用XOR模式，然后使用掩膜逻辑中的与门直接将整条扫描链都掩膜掉，防止未知态传播到压缩逻辑中，影响测试结果。

       问题：掩膜向量是如何进入芯片中？EDT有两组寄存器，分别是掩膜移位寄存器、掩膜保持寄存器。在ATE机台将测试向量打入测试逻辑时，会在测试向量尾端增加一节掩膜向量，在测试向量移入Ring Generator后，还需要几个测试时钟周期将掩膜向量移入掩膜移位寄存器中，掩膜保持寄存器就会保持住移位寄存器中掩膜向量，并通过一段逻辑Decode产生各种需要的信号。

       问题：为什么需要掩膜保持寄存器呢？因为需要确保当前测试向量的掩膜逻辑不变，防止有新的测试向量进来后，原来的掩膜向量仍然能够起到作用。

2.2 Tessent EDT插入流程

        插入EDT压缩逻辑按照位置分为Core内插入和Core外插入。

        具体区别示意图如下：

 2.2.1 Core外插入EDT的流程

        Tessent不支持综合网表，需要拿到综合后的网标文件进行扫描链的插入。

        具体流程图如下：

         流程命令如下：

• •  set_context dft -edt 
  • read_verilog/read_cell_library
  • dofile scan.dofile：dofile文件是在扫描链插入时工具自动生成的文件，里面包含了扫描链信息与时钟复位信息；
  • set_edt_options
  • check_design_rules
  • write_edt_files
  • create_patterns

        写出EDT相关网表：

• • EDT.v：EDT模块代码；
  • EDT_TOP.v：新增的外层逻辑代码；
  • EDT_core_blackbox.v：防止在综合与插入过程中修改core逻辑，这里使用一个black作为core的代替；
  • DC综合脚本：用于综合EDT的脚本；
  • EDT compressed/bypass do/proc：包含压缩后生成的do/proc文件、将压缩逻辑旁路掉的do/proc文件，用以产生压缩与不压缩的测试向量，预估测试覆盖率；

3.实训环节：插入EDT

4.课后习题