1577_AURIX_TC275_MTU中检测控制相关寄存器

全部学习汇总： ​​GreyZhang/g_TC275: happy hacking for TC275! (github.com)​​

1. 开篇介绍的功能室之前看过很多次的一个握手的功能。
2. 快速行以及快速列模式的测试中，这个行列其实是对应的存储的bit阵列信息。一个对应相应的字，另一个则对应bit序列。

1. FAILDUMP用来设置测试检查到错误时候的错误信息导出。
2. 吉尔伯特测试中的填充值也可以直接在寄存器中填充。
3. bit翻转以及列翻转，这样的功能在checkboard或者colum stripe检查模式中可以用到。之前类似的检查功能用软件写过，可以想象的出来这种设计的高效。

1. 采用快速行寻址还是快速列寻址选择可配。
2. 数据是否进行初始化也是可以配置的，而且，这个初始化室包含ECC的bit信息的。
3. 存储测试的时候内存测试的方向室从高到低还是从低到高都是可以配置的。
4. 一般情况下，遇到问题之后检查会停止。但是也可以选择继续恢复接下来的检测。

1. 在前面的描述中多次看到这个START的控制位，这里是其相关描述。
2. 关于dump这里做一个简单的学习小结。之前只知道这个单词有丢弃的意思，而且一般伴随着这个单词出现的时候，软件设计一般都是系统崩溃之类的问题，我觉得也很搭调。但是其实这个单词还有一个转存的意思，在软件运行场景方面，我觉得这种转存的解释能够更容易符合我们我遇到的这种场景。

这个寄存器可以提供不仅有当前的运行状态，还有上次的运行状态。

1. FDA是前面描述中看到很多次的一个状态位，有这样的状态其实也意味着问题的发现。
2. FAIL的出错置位是由硬件来置位的，其实这个也是能够反应的出来这个检查是由硬件模块本身来实现的而不是一种软件策略。
3. 检查完成的标志在复位的时候默认是1。

1. 范围寄存器只是用于RAM检查的，可以实现64字的递增变化。
2. 相应的寄存器有使能还有地址两部分组成，但是这个地址应该是有一个与实际地址的转换关系，不然无法表征32bit。

1. 这一页描述了前面地址表达说明的一部分，如果有成熟的驱动代码我觉得可能驱动中肯定会考虑实现这样的地址翻译转换。
2. 版本修订的ID，主要是用来表征检查模块以及ECC模块的IP信息。

1. ECC安全寄存器主要提供错误检测与提示模式的控制，ECC的使能控制是默认的。
2. ECC的bit映射模式有1种正常运行模式和2种测试模式。

1. 支持错误纠正的是否进行错误纠正，这个是可以配置的。
2. 可就正的错误以及不可纠正的错误出现错误后是否生成提示，这个也是可以配置选择的。