1. concept
scan cell 是scan circuitry中最基层的、独立的单元，可同时作为control point和observe point。
2. testproc
scan cell的工作模式可从芯片外部控制，一般来说控制信号写在testproc file里面。
3. memory-element
一个scan cell最少包含一个memory element， flip-flop或者latch。根据memory-element不同可以把scan cell分为不同的类型，最通用的generic Mux-DFF scan cell:
4. Master element
master cell是scan cell的主要部分，master cell从前一个scan cell直接capture data，一个scan cell中必须包含且只能包含一个master cell。
5. Slave element
slave cell在scan chain中，有一个单独的clock，不可以从前一个scan cell直接capture data，应用在scan cell之后保存scan cell的output。
6. shadow element
shadow cell不在scan chain中，clock可以是单独也可以用scan clock，也可以不在scan cell中。
7. copy element
copy cell在scan chain上，dataout 和master cell是一样的。
8. extra element
略==
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