1. X-blocking
使用EDT compactor压缩scan chain会导致X-blocking，compactor会将scan chain的observe值做异或运算，两条chain中的任意一条为X， edt channel output 都会observe X，这导致被mask的一条chain对应位置的cell所测fault不能被cover到，会影响test coverage。
2. scan chain masking
scan chain mask 有两种方式，一种是one-hot masking，一种是flexible masking。
one-hot masking每次只选择一条chain，其他chain都被mask，对compactor输出0，一般在non-masking 和fexible masking算法不能再有效的测出fault后使用。
flexible masking选择那些产生X state的chain mask，然后在output observe没有X state的pattern。这样可以在减少pattern count的同时最大化fault detection。
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