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在超深亚微米（90纳米及以下，本书成于2007年）环境下设计一个系统级芯片（数千万门及以上）是一项同时解决许多复杂且相互依赖问题的任务。所需的设计/实施/验证方法论是一个动态发展的过程，因为随着工艺技术的不断进步，所涉及的挑战也在不断变化。今天最突出的挑战如下：时序闭合。时序闭