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编程问答
MLCC
2024-09-06
电容反谐振点引起的辐射超标
在现代电子设计中,电磁兼容性EMC问题是一个关键挑战,尤其是在应对辐射发射RE超标时,往往需要综合考虑电路的各个方面。一、RE辐射问题及分析框架电磁干扰EMI可以通过三个主要因素来分析:干扰源、干扰路径和被干扰源。对于RE辐射问题,工程师们通常从干扰源和干扰路径两方面入手:
2024-06-18
1.2 陶瓷电容(MLCC)选型----硬件设计指南(持续补充更新)
本系列文章是笔者总结多年工作经验,结合理论与实践进行整理备忘的笔记。希望能直接指导硬件工程师的设计实操,争取每一条设计要点指南都做到有理有据。既能帮助自己温习整理避免遗忘也能帮助其他需要参考的朋友。笔者也会不定期根据遇到的问题和想起的要点进行查漏补缺。如有谬误,欢