扫描电子显微镜（SEM，扫描电镜）是一种高分辨率显微分析工具，通过电子束扫描样品表面生成图像，广泛应用于科学研究与工业检测。SEM利用高能电子与样品的相互作用，产生多种信号，包括二次电子、背散射电子和特征X射线，从而获取样品的表面形貌、化学成分及晶体结构信息。扫描电镜（扫描电子