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EM就electric-migration，即电迁移。电子在金属导体内迁移时，会与金属原子发生碰撞。时间久了，金属原子便会往电子方向进行移动，导致金属导体发生断裂的现象，我们称之为电迁移现象。
如果金属导体内的电流越大，意味着移动的电子数也就越多。这就意味着电子与金属导体之间发生碰到的概率也就越高，加剧了电迁移的发生。
所以，根据电迁移的原理，我们可以得出电迁移产生的原因有如下几种：
1、 金属线太窄或金属线太长：
在相同的电流下，或者说相同数量的电子移动情况下，由于金属线太窄或者太长，大大增加了发生碰撞的金属原子百分比。从而，使得更
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