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基于ANSYS Fluent 的电子散热问题仿真方法介绍

时间:2024-06-20 19:30:25浏览次数:11  
标签:仿真 散热 SCDM Fluent 设计 几何 ANSYS 电子设备

电子行业从上世纪六十年代开始起步,发展至二十一世纪的今天,产品已经从开始时的实现简单功能到现今的完成复杂功能(例如从最初的加法机到如今的万亿数量级的超算机)。另一方面,产品复杂性导致的元器件集成度越来越高,使得今天的电子工程师面对巨大的设计及制造上的挑战。

一、电子设备热设计的必要性

在电子设备中,热功率损失通常以热能耗散的形式表现,而任何具有电阻的元件都是一个内部热源,如图1所示。

图1 热量产生示意图

电子设备是由大量的电子元件组成的,当电子设备正常工作时,其输入功率要高于输出功率,高出这部分功率则转化为热量耗散掉,如果这些热量不能顺利地导出,就会产生内部高温,高温会导致元器件失效,单个元器件失效会导致整个设备的失效。

图2是美国空军对导致电子设备失效的原因的调查,调查结果表明导致元器件失效的主要原因就是高温。

图2 美国空军对导致电子设备失效的原因的调查

在电子行业,器件的环境温度升高10 ℃时,往往失效率会增加一个数量级,这就是所谓的“10 ℃法则”。

每种器件失效前的平均时间是其所承受的应力水平、热应力和化学结构的综合因素的统计函数。降低热应力能够使失效率显著地降低,见表1。

表1 高低温时部分元器件失效率及比值

元器件名称

基本失效率

高低温失

效率比值

高温

低温

晶体管

160℃时0.064

40℃时0.008

120

8:1

玻璃和陶瓷电容

125℃时0.029

40℃时0.0009

85

32:1

变压器和线圈

85℃时0.0267

40℃时0.001

45

27:1

碳膜电阻

90℃时0.0063

40℃时0.0002

50

31:1

集成电路芯片

90℃时0.51

40℃时0.0068

50

7.5:1

随着软件技术和计算机硬件的飞速发展,如今电子产品的设计已进入了面向并行工程的CAD/CAE/CAM时代,设计及评估人员都能够依靠计算机仿真技术更好的展开工作。

热仿真能够在样品和产品开始之前确定和消除热问题,借助热仿真可以减少设计成本、提高产品的一次成功率,改善电子产品的性能和可靠性,减少设计、生产、再设计和再生产的费用,缩短高性能电子设备的研制周期。热分析软件能够比较真实的模拟系统的热状况,应用热分析软件,在设计过程中就能预测到各元器件的工作温度值,这样就可纠正不合理的布排,取得良好的布局,从而可以缩短设计的研制周期。其次,经过若干次的改进设计,设计工程师可以对电子设备进行有效的热控制,使它在规定的温度极限内工作,从而可以提高电子设备的可靠性。

ANSYS 在解决电子系统的系统级散热设计方面有着最好的专业技术优势,应用专业的CFD计算软件群,能够在模型建模、快速的网格生成、强大的求解计算、完善的后处理等方面拥有独特的优势。

图3 基于ANSYS Fluent 的电子散热问题分析基本工作流程

二、电子散热仿真中的几何处理(SCDM)

ANSYS SpaceClaim Direct Modeler(简称 SCDM)是基于直接建模思想的新一代3D建模和几何处理软件,可以提供给CAE分析工程师一种全新的CAD几何模型的交互方式,从而显著地缩短产品设计周期,大幅提升CAE分析的模型处理质量和效率。

图4 SCDM 新一代3D建模和几何处理软件

对于电子散热问题,通常工程师需要处理大量固体电子元器件的几何模型,而且这些器件大多不是同一种材料,因此还要考虑多个实体间的干涉与缝隙;同时,工程师还需要获取固体之间的流场区域,并根据不同的情况进行几何分类(如风扇区域、格栅区域等)。

对于电子散热仿真中纷繁复杂的几何问题,SCDM可以结合自身特点,高效的完成几何修复与几何简化的工作,从而使CAD设计与CAE仿真建立高速桥梁,完成仿真的第一步。

图5 使用SCDM修复和简化的电子器件几何模型

图6 SCDM软件快速获取流体仿真区域

三、电子散热仿真中的网格工具(Workbench Meshing)

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