openGauss学习笔记-208 openGauss 数据库运维-常见故障定位案例-TPCC高并发长稳运行因脏页刷盘效率导致性能下降

openGauss学习笔记-208 openGauss 数据库运维-常见故障定位案例-TPCC高并发长稳运行因脏页刷盘效率导致性能下降

208.1 TPCC高并发长稳运行因脏页刷盘效率导致性能下降

208.1.1 问题现象

TPCC高并发长稳运行因脏页刷盘效率导致性能下降，具体表现为：初始性能较高，随着运行时间增加，数据库tmpTotal值下降，WalWriter线程CPU占用100%，其他CPU几乎没有负载，WDR报告中，脏页刷盘等待时间占比最高。

208.1.2 原因分析

一般来说，问题原因可以通过查看进程状态、操作系统资源使用情况（CPU、IO等）分析具体原因， 或者通过WDR报告对问题根因继续分析。 在该场景下，脏页刷新的效率较低。

208.1.3 处理方式

1. 降低并发度或者调大shared_buffers参数。
2. 调整脏页参数：在开启双写的场景下，可以调整page_writer_sleep(下调)、max_io_capacity(上调)等参数，加快脏页淘汰效率。
3. 更换高性能磁盘（NVME等）。

数据库占用资源应与业务需求相吻合。对于高并发测试中，需要增加资源以保证数据库业务可用。

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